实现最可靠和最精确测量的一个关键构件是正确标定标准的适当使用和运用,为测量任务量身定制实现准确可靠的测量提高质量,提高制造效率并节省宝贵资源考虑所有这一切的目的是涂层厚度测量与Rob Weber和Melissa Agneta联手网络研讨会讨论标定标准选项和XRF和DFT测量工具最佳做法
议程 :
- 工具验证对标定
- 不同类型XRF和DFTguages可用标准
- ISO 17025可追踪标准的好处
- 重认证ISO达标
正确使用和实施XRF和DFT校准标准
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学习标定标准选项和XRF和干膜厚度测量工具最佳做法
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讲演者1:
罗伯特微博
技术主管
Rob Weber是Fischer技术公司技术主管Rob16年来一直使用Fischer技术,从田间销售工程师开始转机应用和产品支持Rob是NACE、SSPC、IPC和NASF成员加入Fischer前 Rob用10多年服务工程师 向半导体行业提供薄膜计量安布里里中程航空大学毕业
讲演者2
Melissa Agneta
材料应用工程师
Melissa Agneta是Fischer技术公司的一个材料应用工程师,支持客户和Fischer销售工程师为跨多行业的多种商业应用提供计量解决方案在Fischer技术公司工作前,她曾是燃料电池行业的现场质量工程师Melissa获缅因大学精益六西格玛化学工程绿带认证学士
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